BS DD IEC/PAS 60747-17-2011 半导体元件.分立元件.基本和增强隔离用磁性和电容耦合器
作者:标准资料网
时间:2024-05-22 05:32:08
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Magneticandcapacitivecouplerforbasicandreinforcedisolation
【原文标准名称】:半导体元件.分立元件.基本和增强隔离用磁性和电容耦合器
【标准号】:BSDDIEC/PAS60747-17-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-12-31
【实施或试行日期】:2011-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Capacitive;Components;Couplers;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalinsulatingmaterials;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Endurancetesting;Inspection;Integratedcircuits;Magnetic;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:44P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体元件.分立元件.基本和增强隔离用磁性和电容耦合器
【标准号】:BSDDIEC/PAS60747-17-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-12-31
【实施或试行日期】:2011-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Capacitive;Components;Couplers;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalinsulatingmaterials;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Endurancetesting;Inspection;Integratedcircuits;Magnetic;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:44P;A4
【正文语种】:英语
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