ASTM F24-2004 表面粒状杂质的测量和计数标准方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-19 06:30:10
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【英文标准名称】:StandardMethodforMeasuringandCountingParticulateContaminationonSurfaces
【原文标准名称】:表面粒状杂质的测量和计数标准方法
【标准号】:ASTMF24-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E21.05
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:污染;计数;杂质;表面;电子工程;测量
【英文主题词】:opticalparticlecounting;particulatecontamination;sizedistributionanalysis;surfaces
【摘要】:1.1Thismethodcoversthesizedistributionanalysisofparticulatecontamination,5morgreaterinsize,eitheron,orwashedfrom,thesurfaceofsmallelectron-devicecomponents.Amaximumvariationoftwotoone(33%oftheaverageoftworuns)shouldbeexpectedforreplicatecountsonthesamesample.Note1--Forsatisfactoryresultsoncleanparts,itisrecommendedthatallproceduresinvolvedinsamplepreparationbeconductedunderadustshield.
【中国标准分类号】:Z10
【国际标准分类号】:17_040_20
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:表面粒状杂质的测量和计数标准方法
【标准号】:ASTMF24-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E21.05
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:污染;计数;杂质;表面;电子工程;测量
【英文主题词】:opticalparticlecounting;particulatecontamination;sizedistributionanalysis;surfaces
【摘要】:1.1Thismethodcoversthesizedistributionanalysisofparticulatecontamination,5morgreaterinsize,eitheron,orwashedfrom,thesurfaceofsmallelectron-devicecomponents.Amaximumvariationoftwotoone(33%oftheaverageoftworuns)shouldbeexpectedforreplicatecountsonthesamesample.Note1--Forsatisfactoryresultsoncleanparts,itisrecommendedthatallproceduresinvolvedinsamplepreparationbeconductedunderadustshield.
【中国标准分类号】:Z10
【国际标准分类号】:17_040_20
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
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